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  • 阻抗介電頻譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

    應(yīng)用領(lǐng)域材料研究:分析陶瓷、聚合物等介電性能環(huán)境測(cè):支持高溫(達(dá)1600℃)測(cè)量電子行業(yè):優(yōu)化半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)技術(shù)優(yōu)勢(shì)精確控溫:±0.5℃精度,支持真空環(huán)境專業(yè)夾具:鉑金電極,平行板電容法軟件兼容:支持多品牌阻抗分析儀阻抗介電頻...

    2025-12-16
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀 滿足標(biāo)準(zhǔn)

    介電強(qiáng)度擊穿電壓試驗(yàn)儀,擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,電壓擊穿試驗(yàn)儀,絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀,耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀產(chǎn)品名稱:電壓擊穿試驗(yàn)儀產(chǎn)品型號(hào):BDJC-50KV控制方式:微機(jī)控制滿足標(biāo)準(zhǔn):1、GB1408-200...

    2013-09-25
  • 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)

    高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。下面為大家介紹一下介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)1.測(cè)試注意事項(xiàng)a.本儀器...

    2013-09-18
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)

    介電強(qiáng)度擊穿電壓試驗(yàn)儀,擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,電壓擊穿試驗(yàn)儀,絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀,耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀產(chǎn)品名稱:電壓擊穿試驗(yàn)儀產(chǎn)品型號(hào):BDJC-50KV控制方式:微機(jī)控制滿足標(biāo)準(zhǔn):1、GB1408-200...

    2013-09-10
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀適用范圍及功能

    首要適用于固體絕緣資料(如:塑料、橡膠、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì))在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)驗(yàn)。電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)儀由電腦操控,經(jīng)過(guò)我公司自主研制的全新智能數(shù)字集成電路體系與軟件操控體系兩部分來(lái)完結(jié),...

    2013-09-02
  • 體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀儀器簡(jiǎn)單介紹

    體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀儀器簡(jiǎn)單介紹體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω~1×1018Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)...

    2013-08-28
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀同一種介質(zhì)材料在不同的試驗(yàn)條件下所得擊穿電壓不同的原因

    電壓擊穿試驗(yàn)儀為何交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低的疑問(wèn)。(銷售體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀)在交變電場(chǎng)下介電系數(shù)是電場(chǎng)頻率的函數(shù),當(dāng)電場(chǎng)頻率小時(shí),介電損耗就小,電場(chǎng)頻率高時(shí),介電損耗就高,就越易被擊穿,請(qǐng)參看德拜方程;而直流電壓下,電場(chǎng)不發(fā)...

    2013-08-19
  • 影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因(介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀)

    影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因(介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀)擊穿電壓的主要因素影響固體介質(zhì)擊穿電壓的因素甚多,下面介紹幾種主要的影響因素。電壓作用時(shí)間如果電壓作用時(shí)間很短,固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿,擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長(zhǎng),擊...

    2013-08-12
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